QDI 2010
全光譜(紫外-可見(jiàn)-近紅外)顯微分光光度計(jì)。
QDI 2010?***先進(jìn)的紫外可見(jiàn)近紅外顯微分光光度分析系統(tǒng)。
無(wú)損測(cè)量樣品的透射,反射,熒光和偏振光譜,采樣面積可以小于1微米,適合做樣品的顯微光譜分析。
測(cè)試OLED平板顯示器: OLED平板顯示器代表了***新顯示技術(shù)。QDI系列顯微分光光度計(jì)可用于開(kāi)發(fā),分析和質(zhì)量控制RGB和寬帶電致發(fā)光磷光體,RGB和寬帶電致發(fā)光磷光體用于制造下***代新型平板顯示器。
QDI 2010 TM 堪稱紫外可見(jiàn)近紅外顯微分光光度計(jì)的新標(biāo)準(zhǔn)。
QDI 2010TM 能夠?qū)︼@微樣品***次掃描完成從深紫外光到近紅外光譜的采集。能夠分析各種樣品,從紡織品纖維到200毫米的半導(dǎo)體硅晶片,從納米材料到光子晶體,無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室還是工廠,QDI 2010 TM 都是理想的分析儀器。
QDI 2010?的預(yù)校正光譜儀配備科研***陣列探測(cè)器(CCD或PDA)。
每個(gè)陣列探測(cè)器都可選配半導(dǎo)體冷卻器制冷以達(dá)到***低的噪聲和長(zhǎng)期穩(wěn)定性,確保儀器獲得***佳信噪比。采用科研***紫外-可見(jiàn)光-近紅外顯微鏡,高分辨率彩色數(shù)字成像系統(tǒng),紫外屏蔽目鏡,計(jì)算機(jī)服務(wù)器預(yù)裝WINDOWS XP 操作系統(tǒng),綜合性的儀器控制/光譜分析軟件包。
QDI 2010? 操作簡(jiǎn)單,耐用,為使用者提供***優(yōu)質(zhì)的測(cè)試分析結(jié)果。